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菲希尔XUL镀层测厚仪

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菲希尔XUL镀层测厚仪
访问量 : 836
编辑时间 : 2019-12-11
信息标签 : 镀层测厚仪

XUL / XULM

在电镀或电子元件生产过程中需要快速且精确地测定镀层厚度时,XUL® 系列镀层测厚仪是您的首选解决方案。X 射线荧光仪器可自下而上进行测量,能够在测量台上对样品进行轻松定位。该系列的所有 X 射线仪器均配备相同的探测器。您可以根据自己的测量需求选择不同的准直器、滤波器以及 X 射线管。

特性:

  • 凭借宽大的测量室和自下而上的测量方向,即使大型样品(如:印制电路板或柔性电路板)也可简便、快速地定位

  • 硬件选项丰富多样,可满足各种测量需求

  • 可选配微聚焦 X 射线管,从而可测量直径仅为 100 µm 的微型结构和测量表面

应用:

  • 铬镀层,如:经过装饰性镀铬处理的塑料制品

  • 防腐蚀镀层,如钢材上的锌镀层

  • 印制电路板和柔性电路板上的镀层

  • 接插件和连接器上的镀层

  • 电镀槽液分析